LSI故障解析技術として世界中でもっともよく使われているOBIRCHの
開発者であるNECの二川さんによるLSI故障解析技術の教科書本です。
LSI故障解析技術は、製品開発、製造工程開発、納入あるいは市場での
不良を解明し、早期に製品にフィードバックし、問題解決し、速く早い
開発、不良を早期に解決し、LSIユーザーが受ける損失の最小化に最も重
要な技術です。
残念ながら、非常に特殊な分野なので、この技術の図書はごくわずかです。
本社は、故障解析技術と信頼性試験技術の全体像を、わかりやすくまとめ
た良書と思います。最新の解析結果も掲載されています。
これからこの業務に携わる人、現在携わっている若手におすすめの本です。